La prova di surge permette di individuare anche i cortocircuiti tra spire presenti sullo stesso avvolgimento. Normalmente si riesce ad individuare 1 spira in cortocircuito su 200 spire.
EDC ha realizzato speciali sistemi per clienti che necessitano di individuare cortocircuiti di 1 spira su 3000 spire.
La prova di Surge consente di individuare i seguenti difetti:
- cortocircuiti permanenti tra le spire;
- cortocircuiti non permanenti tra le spire con produzione di scariche;
- presenza di effetto corona;
- perdite di isolamento
perdite per capacità parassite superiori al normale.
Il sistema è in grado di fare una analisi completa della risposta dello statore in prova ad ogni singolo impulso applicato. La prova di Surge consiste nel collegare in parallelo all’avvolgimento in prova (induttanza L) un condensatore (con capacità C). Il condensatore viene caricato alla tensione Vsg. Il sistema EDC analizzerà l’evoluzione nel tempo del segnale misurato ai capi del parallelo L-C.
Nella versione standard della prova di SURGE il sistema EDC campionerà il segnale ricavandone in particolare:
- il valore del coefficiente di INDUTTANZA.
- il valore della PERDITA DI ENERGIA che misura la quantità di energia persa tra due picchi pre-sezionati della sinusoide smorzata. Tanto più alto è il valore di EL maggiore è la perdita di energia e quindi la sinusoide si smorzerà in tempi minori.
La CURVA ROSSA mostra uno statore con 200 spire e 1 spira in corto-circuito (NO-GO) e la CURVA BLU mostra uno statore con 200 spire e 0 spire in corto (GO).
E' disponibile una versione avanzata della prova di Surge (320/ASG) con miglior frequenza di campionamento e ulteriori analisi e parametri di difetto.
Inoltre, al fine di potenziare al massimo la capacità della prova di Surge (in versione avanzata 320/ASG) di identificare i vari difetti all'interno dell'avvolgimento (inclusi quelli latenti e non immediatamente manifesti al momento del collaudo del prodotto), e.d.c. ha appositamente sviluppato l'opzione 320/PDS, ovvero la Misura di Scariche Parziali eseguita durante la prova di Surge.